美国NANOVEA推出便携式三维表面形貌仪

2015-06-12

美国NNAOVEA公司近期推出了JR25型便携式三维非接触式表面形貌仪,该设备的激光探头可以自由旋转然后聚焦到被测物体上进行三维表面形貌扫描机相关表面参数分析,可以定量地测量表面粗糙度及关键尺寸,诸如晶粒、膜厚、孔洞深度、长宽、线粗糙度、面粗糙度等,并计算关键部位的面积和体积等参数。尤其适合测量大尺寸样品,包括不可拆卸部件的精密测量,同时适合进行野外操作测量。
技术参数:
垂直测量范围:24mm
垂直分辨率:8nm
扫描速度:20m m/s
测量范围:25*25mm

详情请咨询:info@mnt-china.cn


本网站由阿里云提供云计算及安全服务