美国NANOVEA公司推出非接触式粗糙度测量仪

2015-06-12

美国NANOVEA公司近期推出了P3型非接触式粗糙度测量仪,采用国际领先的光学非接触式传感器可实现高速高精度大范围内的表面粗粗度测量,包含一维粗糙度参数(Ra,Rp,Rq,Rz等) 二维表面粗糙度参数(Sa,Sq,Sq,Sz…)。该设备性价比高,主要用取代传统的探针式表面粗糙度测量仪。
主要技术参数如下:
1,扫描范围:1×1,2×2,3×3,4×4,5×5,10×10,15×15(mm)
2,扫描步长:1×1,2×2,5×5(μm)
3,Z方向测量范围:300μm
4,Z方向测量分辨率:8nm
5,Z方向测量精度:60nm
6,横向光学分辨率:2.6μm

详情请咨询:info@mnt-china.cn


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