三维表面形貌仪
真空加热台
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棱镜耦合仪
SPA-4000棱镜耦合仪利用波导耦合原理可以测量薄膜或体块材料的折射率和薄膜厚度以及其热光系数，波导损耗等。对于许多薄膜及光波导用途，提供了比以椭圆光度法或分光光度法为基础的传统仪器更独特的技术。
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真空高温炉
英国Ceramisis2000℃系列真空高温炉可达到2000℃的温度，气氛可以是真空或惰性气体。设计了不同的层级的耐高温材料，使这个炉耐用可靠，该系统由安装在真空室，真空热台，真空泵，控制系统与水冷系列组成。高温炉系统可用于各种材料的烧结。
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点蚀坑三维形貌仪
点蚀坑三维形貌仪是一款专业的三维表面形貌测量仪，采用结构光原理扫描样品表面,得到三维数据信息,通过专业的分析软件可得到样品表面腐蚀坑的深度，宽度，长度，面积等表面参数。
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VHX-5000超景深三维显微系统
VHX-5000可瞬间对焦所需观测的位置进行观测，可在瞬间轻松观测到全幅对焦图像，摒弃焦点调整的概念，无需进行对焦的全新观测方法。
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微纳米力学测试系统
原子力显微镜
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Park NX-Hivac
用于故障分析与气氛敏感材料研究的高真空原子力显微镜
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Park NX10
Park NX10
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Park XE7
The economical choice for innovative research
Park XE7配有Park Systems的所有顶尖技术，而且价格十分亲民。与Park Systems的其他高级型号相比，XE7在细节的设计上也相当用心，是帮助您准时且不超预算地完成研究的理想之选。立即购买
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Park NX20 300mm
可用于 300mm晶片圆测量和分析的顶级自动化纳米测量工具
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Park NX20
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The leading nano metrology tool for failure analysis and large sample research
作为一位失效分析工程师，您的任务是提供结果。而仪器所提供的数据不能允许任何错误的存在。Park NX20，这架全球最精密的大型样品原子力显微镜，凭借着出色的数据准确性，在半导体和硬盘行业中大受赞扬。立即购买
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Park XE15
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Increase your productivity with our powerfully versatile atomic force microscope立即购买
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Park NX12
多功能原子力显微镜平台，满足纳米级测量的需求
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Park NX10 SICM
Park NX10扫描离子电导显微镜
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Park 3DM Series
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Automated Industrial AFM for High-Resolution 3D Metrology
Park Systems推出革命性的XE-3DM全自动原子力显微镜系统，专为垂悬轮廓、高分辨率侧壁成像和临界角的测量而设计。借助独有的XY轴和Z轴独立扫描系统和倾斜式Z轴扫描器，XE-3DM成功克服精确侧壁分析中的法向和喇叭形头所带来的挑战。在True Non-Contact™模式下，XE-3DM可实现带有高长宽比尖端的柔软光刻胶的无损测量。立即购买
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Park HDM Series
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Simply the best AFM for automatic defect review and surface roughness measurement
对于媒介和基体领域的工程师而言，识别纳米级缺陷是一个非常耗时的工作。Park NX-HDM原子力显微镜系统可借助数量级实现自动缺陷识别、扫描和分析，从而加快缺陷的检查过程。Park NX-HDM可与众多的光学检查工具直接进行连接，这就意味着自动缺点检查通量会大幅提高。此外，Park NX-HDM拥有精确的次埃米表面粗糙度测量功能。凭借着业内最低的本底噪声和独特的True Non-Contact™技术，Park NX-HDM毫无疑问是市面上表面粗糙度测量最精确的原子力显微镜。立即购买
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Park PTR Series
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The Fully Automated AFM for Accurate Inline Metrology of Hard Disk Head Sliders that makes doing great work simpler.
Park Systems的PTR系列是针对全自动工业级线上的原子力显微镜解决方案，适用于（不限于）长形条、磁头万向节组件(HGA)级滑块以及单独滑块的极尖沉降自动测量。凭借着亚纳米级精确度、高重复精度以及高通量，PTR系列是滑块厂商提高整体产量的理想测量工具。立即购买
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Park Wafer Series
1概览Automated Industrial AFM for In-line Wafer Inspection and Metrology
Park Systems推出业内噪声最低的全自动化工业级原子力显微镜——XE-Wafer。该自动化原子力显微镜系统旨在为全天候生产线上的亚米级晶体（尺寸200 mm和300 mm）提供线上高分辨率表面粗糙度、沟槽宽度、深度和角度测量。借助True Non-Contact™模式，即便是在结构柔软的样品，例如光刻胶沟槽表面，XE-Wafer都能实现无损测量。PROBLEMS
目前，硬盘和半导体业的工艺工程师使用成本高昂的聚焦离子束(FIB)/扫瞄式电子显微镜(SEM)获取纳米级的表面粗糙度、侧壁角度和高度。不幸的是，FIB/SEM会破坏样品，且速度慢，成本高昂。SOLUTION
XE-Wafer原子力显微镜实现全自动化的在线200 mm & 300 mm晶体表面粗糙度、深度和角度测量，且速度快、精度高、成本低。BENEFIT
XE-Wafer让无损线上成像成为可能，并实现多位置的直接可重复高分辨率测量。更高的精确度和线宽粗糙度监控能力让工艺工程师得以制造性能更高的仪器，且成本显著低于FIB/SEM。立即购买
真空式脱泡搅拌机
扫描电镜
摩擦磨损试验机
扫描近场光学显微镜
拉曼-SEM
共聚焦拉曼光谱仪
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拉曼成像与扫描电子联用显微镜
与ZEISS电镜联用的 RISE 显微镜（拉曼-SEM）
RISE 显微镜是一款新型联用显微镜，它将 SEM 和共聚焦拉曼成像结合在一起。通过 RISE 显微镜，可以将超微结构表面特性与分子化合物信息关联起来。RISE 显微镜将SEM 和alpha300共聚焦拉曼成像显微镜的所有功能都融于一台仪器中。立即购买
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Alpha300-RAMAN共焦拉曼光谱仪
Alpha300R系列被誉为引领科技的优秀成像系统，在创新精神指导下不断的研发，使得Alpha 300R始终处于技术的前沿，特别是在显微光谱成像系统的灵活性，灵敏度，速度和性能上，已经成为业界的行业标准。这些独特的特性使Alpha 300R成为共聚焦拉曼成像系统的市场引导者。
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WITec alpha 300S扫描近场显微镜
WITec alpha 300S扫描近场光学显微镜是一种纯近场光学显微镜，在很多样品上都可获得一致的超高分辨率，并且拥有透射与反射式两种模式。
该近场光学显微镜不同于其他的超分辨显微镜，如 STED 和 STORM，后二者往往受限于荧光染料分子的可选种类及特殊的激发光源。 alpha300S 系统采用软件可控的快速自动进针及调节等自动测试流程，操作非常简便、直观。
由于近场光学信号极其微弱，alpha300 S 近场光学显微镜配备高灵敏单光子计数的光电倍增管或雪崩二极管，并同时提供检测器快速超载保护。更重要的是，UHTS 光谱仪可与 alpha300S系统兼容，实现近场光谱与成像测量。立即购买
真空高温炉
棱镜耦合仪
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900℃真空加热台（卤素灯）
真空加热台可工作在超高真空环境下，主要应用在PVD,CVD，MOCVD及等离子体沉积系统上。
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800℃真空加热台（NiCr灯丝）
真空加热台可工作在超高真空环境下，主要应用在PVD,CVD，MOCVD及等离子体沉积系统上。
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1000℃真空加热台（SiC, CCC or PBN）
真空加热台可工作在超高真空环境下，主要应用在PVD,CVD，MOCVD及等离子体沉积系统上。
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1700℃真空加热台（CCC）
真空加热台可工作在超高真空环境下，主要应用在PVD,CVD，MOCVD及等离子体沉积系统上。
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点蚀坑三维形貌仪
超景深三维显微镜
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